يعد مطياف البنية الدقيقة لامتصاص الأشعة السينية (إكس إيه إف إس) أداة قوية لدراسة البنية الذرية أو الإلكترونية المحلية للمواد، ويستخدم على نطاق واسع في المجالات الشعبية مثل التحفيز والطاقة وتكنولوجيا النانو.

طيف البنية الدقيقة لامتصاص الأشعة السينية (إكس إيه إف إس) هو أداة تحليلية تستخدم لدراسة بنية وخصائص المواد. يحصل إكس إيه إف إس على معلومات حول الذرات والجزيئات في العينة عن طريق قياس امتصاص الأشعة السينية للعينة ضمن نطاق طاقة معين. يعد إكس إيه إف إس أداة قوية لدراسة البنية الذرية أو الإلكترونية المحلية للمواد. تُستخدم تقنية إكس إيه إف إس على نطاق واسع في علم المواد والكيمياء والأحياء وغيرها من المجالات، وخاصة في مجالات البحث مثل التحفيز والبطاريات وأجهزة الاستشعار وما إلى ذلك. تتمتع تقنية إكس إيه إف إس بقيمة تطبيقية مهمة. من خلال تقنية إكس إيه إف إس، يمكن للباحثين اكتساب فهم أعمق للبنية الدقيقة وخصائص العينات، مما يوفر دعمًا قويًا لتصميم وتحسين المواد الجديدة.

يعد مطياف البنية الدقيقة لامتصاص الأشعة السينية أداة قوية لدراسة البنية الذرية أو الإلكترونية المحلية للمواد، ويستخدم على نطاق واسع في المجالات الشعبية مثل التحفيز والطاقة وتكنولوجيا النانو. المزايا الأساسية لـ XAFS: أعلى منتج للتدفق الضوئي: تدفق فوتون يتجاوز 1000000 فوتون/ثانية/إلكترون فولت، مع كفاءة طيفية أعلى بعدة مرات من المنتجات الأخرى؛ الحصول على جودة بيانات تعادل إشعاع السنكروترون استقرار ممتاز: استقرار شدة الضوء أحادي اللون لمصدر الضوء أفضل من 0.1%، وانجراف الطاقة أثناء التجميع المتكرر أقل من 50 ميجا فولت حد الكشف 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%.