1. عند الحساب الكمي لبيانات زرد، كيف يتم التعامل مع التأثيرات الناجمة عن الامتصاص؟ أو متى نحتاج إلى التفكير في الامتصاص؟

إجابة:في الأساس، معحيود المسحوق، مشكلة الامتصاص غير موجودة. إذا كانت العينة مطحونة جيدًا وكان الفرق في حجم الجسيمات صغيرًا، فإن تأثير الامتصاص المجهري غير موجود في المسحوقXRD. إذا كان الفرق في حجم الجسيمات بين المراحل المختلفة في عينة المسحوق كبيرًا نسبيًا، أكثر من بضعة ميكرونات، فقد يتسبب ذلك في امتصاص مجهري، أي إذا كان حجم الجسيمات غير متساوٍ، فهناك طريقة تصحيح في يشم. في نافذة WPF، حدد"تصحيح امتصاص بريندلي"في مربع الحوار للوزن٪ مضان.

(1) إذا كانت هناك ظاهرة مثل ربط العينة أثناء عملية طحن العينة، فمن الضروري النظر في تصحيح الامتصاص.

(2) إذا كان الفرق في معامل الامتصاص (μ) بين المراحل المختلفة يصل إلى أكثر من 5 مرات، فيجب مراعاة الامتصاص المجهري.

(3) إذا كان حجم طحن العينة أقل من 1-2 ميكرون، فمن غير الضروري مراعاة الامتصاص المجهري.

(4) إذا كنت تستخدمحامل العينةبدون خلفية، يجب أن تفكر في تصحيح الامتصاص عند نثر طبقة رقيقة من المسحوق.

2. كيف يمكنني تحديد ما إذا كانت النتيجة النهائية مثالية؟

إجابة:(1) أولا، ينبغي ملاحظة منحنى الفرق المشتق. في يشم، يمكن عرض قيمة الانحراف المعياري (±3δ) في منحنى الفرق، كما هو موضح بالخط المتقطع في الشكل أدناه؛ إذا كان منحنى الفرق ضمن نطاق الانحراف المعياري، فإنه يشير إلى أن نتيجة التحسين جيدة؛

(2) قيمة R/E، E هي الحد الأدنى لقيمة R المتوقعة وهي Rexp، R هي روبية، وقيمة R/E بشكل عام أقل من 2، ونتيجة التحسين جيدة نسبيًا، إذا كانت R/E أقل من 1.5 هي المثالية ولاية. وبطبيعة الحال، الشرط الأساسي هو اختيار المرحلة المناسبة والبيانات الهيكلية، من أجل تحليل النتائج بشكل أكثر موثوقية.