بنية الامتصاص الدقيقة للأشعة السينية (XAFS)
يحقق مطياف امتصاص الأشعة السينية جودة بيانات بمستوى السنكروترون مع تدفق يزيد عن 4 ملايين فوتون/ثانية/إلكترون فولت.<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
- Tongda
- لياونينغ، الصين
- من شهر إلى شهرين
- 100 وحدة سنوياً
- معلومات
| المعلمة | وصف | |
| الأداء الشامل | نطاق الطاقة | 4.5-25 كيلو إلكترون فولت |
| وضع اكتساب الطيف | وضع الإرسال | |
| تدفق الفوتونات عند العينة | >4×10⁶ فوتون/(ثانية·إلكترون فولت) | |
| حل الطاقة | زانيس: 0.5-1.5 إلكترون فولت إكسافس: 1.5-10 إلكترون فولت | |
| مسار الأشعة السينية | مسار تنقية الهيليوم لتقليل امتصاص الهواء | |
| قابلية التكرار | انحراف طاقة قابل للتكرار < 50 ملي إلكترون فولت | |
| بناء | يؤدي تصميم دائرة رولاند المزدوجة إلى إلغاء الحاجة لتبديل مصدر الضوء أثناء قياسات امتصاص الأشعة السينية (XAFS). باستخدام مصدر أشعة سينية مخصص واحد بتقنية امتصاص الأشعة السينية (XAFS) لتوليد حزمة أشعة سينية مزدوجة، يوفر النظام نوعين من الأشعة السينية أحادية اللون من حيث الطاقة من خلال دوائر رولاند المزدوجة وأجهزة أحادية اللون المزدوجة. وهذا يُمكّن من توصيف عنصرين معدنيين في وقت واحد ضمن نفس العينة، مما يسمح بالتحليل المتوازي من البنى الذرية المحلية لكلا العنصرين المعدنيين. | |
| مصدر الأشعة السينية | قوة | 2.0 كيلوواط؛ جهد عالٍ: 10-40 كيلو فولت؛ تيار: 1-50 مللي أمبير |
| هدف | تأتي الأهداف القياسية مصنوعة من التنجستن والموليبدينوم؛ وتتوفر مواد أخرى للأهداف كخيارات إضافية. | |
| أحادي اللون | يكتب | بلورة محلل كروية بنصف قطر انحناء 500 مم وحجم 102 مم |
| كاشف | يكتب | كاشف SDD ذو مساحة كبيرة بمساحة فعالة تبلغ 150 مم² |
| تكوينات إضافية | مغير العينات | مبدل عينات ذو 18 موضعًا للاختبار الآلي المستمر لعينات متعددة |
| خلية العينة في الموقع | خلايا في الموقع لظروف مختلفة: التحفيز الكهربائي، مجالات متعددة الفيزياء متغيرة الحرارة، واختبارات ميكانيكية | |
| بلورة المحلل | مُوحِّد لون بلوري متخصص لتحليل العناصر المحددة |
المزايا الأساسية:
أعلى تدفق للفوتونات: يُوفر منتجنا تدفقًا فوتونيًا يتجاوز 4,000,000 فوتون/ثانية/إلكترون فولت، مما يُتيح كفاءة في الحصول على الطيف أعلى بعدة مرات من الأنظمة المماثلة. وهذا يُتيح جودة بيانات تُضاهي مصادر إشعاع السنكروترون.
استقرار استثنائي: يتميز الجهاز بثبات ممتاز في شدة الضوء أحادي اللون، مع اختلافات أقل من 0.1%. ويتم الحفاظ على انحراف الطاقة القابل للتكرار أثناء عمليات الاستحواذ المتكررة أقل من 50 ملي إلكترون فولت.
حد الكشف 1%: إن الجمع بين التدفق العالي، وتحسين المسار البصري الفائق، والاستقرار الاستثنائي للمصدر يضمن الحصول على بيانات إكسافس عالية الجودة، حتى بالنسبة للتركيزات العنصرية المنخفضة التي تصل إلى 1٪.
مبدأ عمل الجهاز:
يُعد مطياف امتصاص الأشعة السينية ذو البنية الدقيقة (XAFS) أداةً فعّالة لدراسة البنية الذرية والإلكترونية المحلية للمواد. ويُستخدم على نطاق واسع في العديد من المجالات البارزة، بما في ذلك التحفيز، وأبحاث الطاقة، وعلوم النانو.
هندسة اختبار أحادي اللون المختبري إكس إي إس
هندسة اختبار امتصاص الأشعة السينية أحادي اللون في المختبر
بيانات المنغنيز (المنغنيز) وبيانات امتصاص الأشعة السينية لحافة K للمنغنيز: متوافقة مع جودة مصدر إشعاع السنكروترون
بيانات طيف انبعاث Kβ لعينة الحديد (Fe): طيف انبعاث الأشعة السينية من النواة إلى النواة، وطيف انبعاث الأشعة السينية من التكافؤ إلى النواة
بيانات الاختبار
بيانات امتصاص الأشعة السينية الممتدة (إكسافس) للرقائق المعدنية
التطبيقات
يجد مطياف امتصاص الأشعة السينية هذا تطبيقات واسعة النطاق، مما يمكّن العملاء من تحقيق إنجازات في مجالات متعددة:
الطاقة الجديدة: تستخدم في دراسة خلايا الوقود، ومواد تخزين الهيدروجين، وبطاريات الليثيوم أيون، وما إلى ذلك. يمكنها تحليل التغيرات الديناميكية في حالة التكافؤ وبيئة التنسيق للذرات المركزية أثناء العمليات التحفيزية.
التحفيز الصناعي: يُستخدم في مجالات بحثية مثل التحفيز باستخدام الجسيمات النانوية والتحفيز باستخدام الذرات المفردة. ويمكنه تحديد خصائص مورفولوجيا المحفزات على الدعامات وتفاعلاتها مع مادة الدعامة.
علم المواد: يستخدم لتوصيف المواد المختلفة، ودراسة الأنظمة المعقدة والهياكل غير المنتظمة، بالإضافة إلى دراسة خصائص مواد السطح والواجهة.
العلوم البيئية: يمكن استخدامها لتحليل تلوث المعادن الثقيلة في عينات مثل التربة والمياه، وتحديد حالة التكافؤ وتركيز العناصر.
الجزيئات الحيوية الكبيرة: يمكن استخدامها لدراسة التركيب الذري المحلي حول المراكز المعدنية في الجزيئات الحيوية المعدنية..
