هيكل دقيق لامتصاص الأشعة السينية(XAFS)، ويُسمى أيضًا التحليل الطيفي لامتصاص الأشعة السينية (XAS)، وهو أداة قوية لدراسة البنية الذرية أو الإلكترونية المحلية للمواد بناءً على مصدر ضوء إشعاع السنكروترون، ويستخدم على نطاق واسع في المجالات الساخنة مثل الحفز الكيميائي، الطاقة والنانو.&نبسب;
الXAFSيتكون الطيف من جزأين رئيسيين: هيكل امتصاص الأشعة السينية القريب (XANES) وهيكل امتصاص الأشعة السينية الممتد (EXAFS).
EXAFS: يتراوح نطاق الطاقة حوالي 50 فولت إلى 1000 فولت خلف حافة الامتصاص، والتي تأتي منالأشعة السينيةالإثارة
تنتج الطبقة الداخلية من الإلكترونات الضوئية عن تأثير تشتت إلكترون واحد بين الذرة المحيطة والذرة الممتصة.
XANES: نطاق من حوالي 10 فولت قبل حافة الامتصاص إلى حوالي 50 فولت بعد حافة الامتصاص، بشكل رئيسي من
الأشعة السينية. تشتت متعدد للإلكترونات المفردة بين الذرات المحيطة والممتصة بواسطة الإلكترونات الضوئية ذات الغلاف الداخلي المثار.
مجال التطبيق:
الحفز الصناعي، ومواد تخزين الطاقة، والمواد النانوية، وعلم السموم البيئية، وكذلك تحليل الجودة، وتحليل العناصر الثقيلة، وما إلى ذلك
