محلل الأسعار,محلل العلامات التجارية,محلل اقتباس,محلل الشركة,خصم محلل,محلل ترويج

2. X-شعاع أداة يكون دقيق و موثوق, مع ممتاز أداء.

يدعم برنامج قياس وتحليل الإجهاد المتبقي، بنسخته الصينية، كلاً من طريقتي المطابقة الخطية والقطع الناقص. ويستخدم البرنامج معادلات الإجهاد الكاملة دون افتراض انعدام إجهاد القص، بالإضافة إلى طريقة المطابقة القطع الناقص، مما يسمح بالقياس المتزامن لقيم الإجهاد العمودي وإجهاد القص. ويستخدم كل قياس أكثر من 9 زوايا ψ. وتشمل مطابقة شكل الذروة دوال غاوسية، ولورنتزية، وبيرسون 7، وقطع مكافئ، وغيرها. ويمكن لنتائج القياس عرض قيم الإجهاد العمودي وإجهاد القص في آنٍ واحد، بالإضافة إلى معلومات أخرى مثل شدة الذروة، وعرضها المتكامل، وعرضها الكامل عند نصف الارتفاع (FWHM).

محلل الإجهاد المتبقي بتقنية حيود الأشعة السينية تي دي-RSD دقة تصل إلى ±7 ميجا باسكال، تقنية كاشف مزدوج مبتكرة، تشغيل تلقائي كامل وبرمجيات قوية. تحسين العمليات، تعزيز موثوقية المنتج. حل رائد، صغير الحجم، فعال.

1. تم تجهيز طاولة العينات بمسار حامل للأحمال يمكنه قياس ما يصل إلى 1 كجم ويبلغ قطره 6 بوصات (حتى 8 بوصات). 2. يتم تركيب جهاز شفط فراغي على طاولة العينات. 3. التطبيق: تحديد دقيق وسريع لزاوية القطع للبلورات الأحادية الطبيعية والاصطناعية.

جهاز تحليل الإجهاد المتبقي بالأشعة السينية المحمول هو جهاز اختبار غير متلف يعتمد على تقنية حيود الأشعة السينية. يُستخدم بشكل أساسي لقياس توزيع الإجهاد المتبقي على السطح وقرب السطح في مواد مثل المعادن والبلاستيك، ويجمع بين الدقة العالية وقابلية التكيف الميداني.

نظام تحكم وحدة التحكم المنطقية القابلة للبرمجة (PLC)؛ تصميم معياري، تشغيل سهل، وأداء أكثر استقرارًا للمعدات تصميم خفيف الوزن: خفيف الوزن، مناسب للقياس السريع في الموقع؛ قياس عالي الدقة: نظام تحكم عالي الدقة بنظام محرك متجه مغلق الحلقة بالكامل؛ عملية بسيطة: نظام ويندوز متكامل أو وظائف أتمتة، يدعم الاختبار بنقرة واحدة وعرض النتائج في الوقت الفعلي؛ التوافق متعدد الوظائف: قياس الفولاذ الكربوني، والفولاذ السبائكي، وسبائك التيتانيوم والمعادن الأخرى، والزجاج، والمواد القائمة على النيكل، والمواد المركبة المختلفة؛ تحسين السرعة: يمكن لكاشف مصفوفة الخطوط الميكروستريبية السيليكونية متعددة القنوات أن يوفر أداءً خالياً من الضوضاء، وقياسًا عالي الكثافة، واكتسابًا سريعًا للبيانات.

1. تقنية امتصاص الأشعة السينية (XAFS) هي أداة قوية لدراسة التركيب الذري أو الإلكتروني المحلي للمواد. 2. مجالات تطبيق تقنية امتصاص الأشعة السينية (XAFS): التحفيز الصناعي، المواد النانوية، بالإضافة إلى تحليل الجودة، وتحليل العناصر الثقيلة، إلخ. 3. مزايا منتج XAFS: دقة فائقة (تصل إلى 0.5 إلكترون فولت)، نمط فلوري (محتوى منخفض وقاعدة خلفية عالية)، تدفق ضوئي فائق، حدود كشف منخفضة للغاية (تصل إلى 0.3-0.5%، 10.1039/D2CC05081A)